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第316章 芯片测试（第2页）

一分钟后，徐小封从门缝里探出了头。

“黄总监，您找我？”

……

十几分钟后。

众人已经来到了测试台前。

华能集团总部是没有制造车间的，但硕大的总部，怎能没有专业的检测设备？

事实是，华能集团总部用于检测芯片的设备十分全面，从物理性能到软件性能的测试一应俱全，并且还能随时根据不同情况设计不同的测试流程。

碍于王烁提供芯片的保密性，以及余同光想要尽量封锁消息的考虑，参与测试的人员并不多，硕大的测试场地已经被清空，只有四个人在现场。

除了操作设备的徐小封之外，余同光、柳叶眉，再加一个帮忙的黄总监，仅此而已。

“余总，柳小姐。”

黄总监看着正在忙碌的徐小封，笑着向两人介绍道：“芯片的测试是一项极为复杂的工作。由于芯片是现代电子学的集大成者，所以它的测试内容也涵盖了方方面面。”

“一般来说，我们测试芯片主要有两种方法，一种是开放式测试，也就是将芯片的封层一层层揭开，逐步测试内在的电路，查看芯片的设计结构；另一种是封闭式测试，主要测试芯片的物理性能和是否达到设计目的。”

“这第二种操作起来也很复杂，它具体分为功能测试、参数测试、曲线测试、高温循环测试、高温存储测试、防跌落测试等等项目……”

说到这里，黄总监看着已经将芯片从黑箱子中拿出，放在测试台上，并且操作探针一一对应引脚的徐小封，继续道：“当然，按照余总的要求，其他测试项目我们今天就不进行了，主要进行参数测试。”

“第一步要做的，就是边界探测扫描。”

黄总监面容严肃：“这是十分重要的步骤，利用JTAG接口扫描整个芯片的电路，保证其正常功能，如果芯片有缺陷，这一步就可以直接探测到缺陷点。”

柳叶眉打断他道：“黄总监，如果芯片电路有缺陷，那么会有什么异常？”

“如果有缺陷，那么测试仪就会显示异常，以红色醒目字体提醒，同时将会显示出电路缺陷的位置……”

“是不是这样？”

柳叶眉指了指面前的屏幕。

黄总监正沉浸在为人师表的满足感中，闻言向着面前的屏幕看去。

这一看，他顿时懵了。

眼前的屏幕上，一行醒目的红色字体出现：未检测到芯片。

这是怎么回事？

他转头看向旁边的徐小封，却见他也是一脸懵逼。

亲自上前，仔细检查了一下芯片引脚，检查了探针连接处，并没有发现什么问题，连接到很到位，顺序也没错。

不死心的黄总监重启了程序，片刻后，检测结果出来了，仍然是醒目的红色字体。

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“这……”

黄总监茫然了。